1. Ion Spectroscopies for surface analysis
پدیدآورنده: / Edited by A. W. Czanderna and David M. Hercules
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Solids -- Surfaces -- Analysis,Secondary ion mass spectrometry,Surface chemistry,surface chemistry
رده :
QC
176
.
8
.
S8I66
1991
2. Plasma source mass spectrometry developments and applications
پدیدآورنده : Edited by Grenville Holland, Scott D. Tanner
موضوع : Ion cyclotron resonance spectrometry,Analytical chemistry
۲ نسخه از این کتاب در ۱ کتابخانه موجود است.
3. Secondary ion mass spectrometry SIMSX: Proceedings of the tenth international conference on secondary ion mass spectrometry (SIMSX) university of Muenster, Germany, October 1- 6, 1995
پدیدآورنده: Editor A. Benninghoven
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)
موضوع: Chemistry - Ion spectrometry
رده :
QD
,
96
,.
I5
4. The application of mathematical statistics in analytical
پدیدآورنده: SVEHLA,G
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: MASS SPECTROMETRY , CHEMISTRY,ANALYTIC-STATISTICAL METHODS , ELECTRODES,ION SELECTIVE
رده :
QD
75
.
W75
VOL
.
11
